
Analyse af nanomaterialer – REACH - Analyse af partikelform
Vælg side
Teknologisk Institut tilbyder en karakteriseringspakke til analyse af nanomaterialer i henhold til REACH-retningslinjerne
Nanomaterialer består ikke nødvendigvis af en stor mængde små runde partikler, men findes i flere former og faconer, såsom sfæriske, aflange, pladeformede og multimodale. De morfologiske egenskaber ved en nanoform har stor indflydelse på de fysiske og kemiske karakteristika, og derfor er det en vigtig parameter i registreringen af nanomaterialer.
Hvordan kan Teknologisk Institut hjælpe dig?
Analyse af morfologiske egenskaber ved nanoformer såsom partiklens form, aspekforhold, krystallinitet og samlingsstruktur ved hjælp af:
- Elektronmikroskopi (SEM/TEM)
- Røntgendiffraktion (XRD)
- Røntgenabsorptionsspektroskopi (XAS)
Brug venligst kontaktformularen for at komme i kontakt med vores eksperter - eller ring på +45 7220 2681.