Forstå dine materialer og gør dit produkt bedre

Kathrine  Bjørneboe

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 05.

Mikroskopbillede

Forstå dine materialer og gør dit produkt bedre

Produktudvikling med karakterisering og overfladeanalyse

Materialers mikrostruktur kan have stor betydning for egenskaberne. Overfladestrukturen, porøsiteten og renheden er blandt den type karakteristika som påvirker materialets specifikke ydeevne. Kendskab til mikrostrukturen kan derfor være et vigtigt skridt i produktudviklingen. Det kan være analyse af belægningen på en overflade, undersøgelse af den indre porøsitet eller kendskab til fordelingen af forskellige komponenter, som er afgørende for den videre optimering af produktet.

På Teknologisk Institut er vi specialiseret i materialeanalyse og -karakterisering. Ved brug af en række teknikker, leverer vi et præcist resultat tilpasset dine behov.

Sådan kan vi hjælpe dig

MikroskopbilledeVisualisere overfladestrukturen og give informationer om fordeling af grundstoffer

ved brug af skanning elektron mikroskopi og energidispersiv røntgenspekstroskopi (SEM-EDX).


MikroskopbilledeGive præcise svar på materialets struktur under overfladen

med ionstråle-elektronmikroskopi (FIB-SEM).

 

 


MikroskopbilledeIdentificere polymorfien og renheden af dit materiale

ved brug af røntgendiffraktion (XRD)

 

 



MikroskopbilledeVisualisere den indre struktur og give information om fordelingen af ingredienser uden at ødelægge prøven

med mikro-CT røntgenskanning (Mikro-CT).

 

Vi kombinerer metoder når det er nødvendigt og vil altid forsøge at finde den løsning der passer bedst for besvarelse af dine spørgsmål.

Kontakt vores specialist Kathrine Bjørneboe, hvis du vil vide mere. Du kan kontakte Kathrine på tlf.: 7220 3305 eller kbj@teknologisk.dk.