Rådgivning og udvikling af overfladeløsninger - Analyseteknikker

De højteknologiske teknikker som vi på Teknologisk Institut selv bruger for at analysere og udvikle vores overfladebelægninger, kan vi også tilbyde som services på jeres produkter eller overflader.

Vores udvalg af analyseteknikker kan give en enestående indsigt i forbedringspotentialer eller muligheder for mange forskellige systemer. Vi kan hjælpe med at identificere hvilken/hvilke teknikker, som vil være relevante for netop din situation.  

Herunder kan du se et udvalg af de teknikker, vi anvender

Til fysiske egenskaber 

Nanoindentering: En avanceret teknik, der anvendes til præcis måling af overfladers mekaniske egenskaber som hårdhed og elasticitetsmodul på nanoskala. Med vores topmoderne nanoindenter fra Bruker kan vi opnå yderst nøjagtige resultater, der er ideelle til at vurdere overfladers holdbarhed og styrke. Denne metode er uundværlig for at forstå, hvordan belægninger vil opføre sig under belastning, og kan hjælpe med at optimere deres ydeevne og levetid. 

Pin-on-disc: Testen anvendes til at evaluere friktions- og slidegenskaber på overflader ved at simulere slidende kontakt mellem to materialer. Denne metode giver vigtig information om slidbestandighed, som kan hjælpe med at forbedre materialevalg eller belægninger. 

Kontaktvinkel: En teknik, der undersøger væskers interaktion med overflader for at bestemme hydrofobicitet eller hydrofilicitet. Resultaterne kan bruges til at optimere overfladen, hvilket er vigtigt for f.eks. selvrensende overflader. 

Til overfladestruktur og -kemi  

Scanning electron microscopy (SEM): Giver mulighed for at få billeder af en overflades mikrostruktur. SEM er essentiel for at visualisere små detaljer og teksturer i materialer, hvilket kan afsløre defekter, morfologi og andre vigtige strukturelle egenskaber som bestemmer overfladens egenskaber. 

Energy dispersive x-ray spectroscopy (EDX): En analytisk teknik, der bruges i forbindelse med SEM til at bestemme den kemiske sammensætning af materialer. EDX kan identificere og kvantificere elementerne til stede på en overflade, hvilket gør det muligt at analysere overfladens kemiske sammensætninger præcist. Teknikken er også velegnet til at identificere urenheder eller defekter, som man kan læse mere om her. 

Profilometer: Bruges til at kortlægge overfladers topografi og ruhed med stor nøjagtighed. Teknikken kan bruges til at finde belægningers tykkelse med høj nøjagtighed, samt bruges til at måle spændinger i belægninger.  

Parallel Beam Grazing Incidence røntgendiffraktometer (XRD, GI-XRD): En røntgendiffraktionsteknik som bruges til at analysere tynde films krystalstruktur og fase. Vores udstyr er specielt designet til at fokusere røntgenstrålen på netop overfladerne og få mest mulig information fra de yderste 100’ere nanometer. Teknikken kan også bruges til at studere overfladernes tekstur og stress samt spændinger, som kan påvirke deres ydeevne. 

Synkrotron røntgendiffraktion (SR-XRD): Bruger vi i tillæg til GI-XRD, hvis opgaven kræver exceptionel opløsning eller når vi skal se overfladernes udvikling over tid. Med de meget højintense røntgenstråler fra synkrotroner kan man få en meget høj tidsopløsning på strukturmålingerne.  Derfor er teknikken ofte brugt i eksperimenter hvor man skal se en overflades udvikling mens den bliver påvirket. Eksempler kunne være belægninger på skærende værktøjer som måles mens de arbejder, at se tyndfilm blive dannet i belægningsprocessen, at se funktionelle overflader i elektrolyseapparater arbejde.  

Grazing Incidence - Pair Distribution Function (GI-PDF): En synkrotronteknik som er brugt til at identificere små ændringer i enkelte atomers position og struktur i overflader. Teknikken kan også bruges til amorfe overfladebelægninger, hvilket gør den utrolig effektfuld til at forstå den atomare sammenhæng i alle slags overflader.